| 产品简介

 

CRD高反射率测量仪（CRD High Reflectivity Measurement）是一种基于光腔衰荡技术（Cavity Ring-Down Spectroscopy，CRDS）的精密光学检测设备。两片高反射腔镜组成光学谐振腔，当一束脉冲激光沿着光轴入射到腔内，忽略衍射及散射损耗，单脉冲激光在两个腔镜之间往返振荡时，遵从单指数衰减规律，其所测的反射率是衰荡时间的函数。因此，获取衰荡时间，即可求出待测样品的反射率。我们研制的CRD高反射率测量仪测量反射率范围达99.9%-99.995%，支持0°或45°入射角测量，可根据用户样品尺寸进行定制。其高灵敏度和抗干扰特性使其成为超低损耗光学元件质量控制的理想工具，如激光器谐振腔、光学薄膜等工业与科研领域。

 

| 应用领域

 

· 高反膜反射率，尤其适合反射率 >99%的样品

 

· 我们产品全制程自主生产，可以根据客户需要定制，标准产品参照下面列表：

 

 

| 典型参考指标

 

 

| 典型封装尺寸示意图（mm）